Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Text PDF
Umfang 43 Seiten
2013 Jahr
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
€1,34
Über das Buch
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Genres und Tags
Einloggen, um das Buch zu bewerten und eine Bewertung zu hinterlassen
Книга Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — читать онлайн на сайте. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.
Altersbeschränkung:
0+Veröffentlichungsdatum auf Litres:
29 März 2018Datum der Schreibbeendigung:
2013Umfang:
43 S. Gesamtgröße:
748 КБGesamtanzahl der Seiten:
43Rechteinhaber:
МИСиС