Bücher
Materialforschung
Дмитрий Крутогин
📚 Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов Buch lesen

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

PDF

Das Buch ist auf Russisch

Autoren:Дмитрий Крутогин, Олег Рабинович

Kritiken

Als gelesen kennzeichnen

Wie Sie das Buch nach dem Kauf lesen

Smartphone,
Tablet Computer,
Laptop

Nur Lesen auf LitRes Lesen

Größe: 43 S.
Kategorie: Materialforschung, Workshops Bearbeiten

Buchbeschreibung

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Detaillierte Informationen

Altersbeschränkung:: 0+

An folgendem Datum zu LitRes hinzufügt:: 29 März 2018

Schreibdatum:: 2013

Größe:: 43 S.

Gesamtgröße:: 0 MB

Gesamtzahl der Seiten:: 43

Seitengröße:: 149 x 210 мм

Copyright:: МИСиС

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов — Lesen Sie kostenlos online einen Ausschnitt des Buches. Posten Sie Kommentare oder Kritiken, stimmen Sie für Ihren Favoriten.