Nur auf LitRes lesen

Das Buch kann nicht als Datei heruntergeladen werden, kann aber in unserer App oder online auf der Website gelesen werden.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
ТекстTextPDF

Umfang 43 seiten

2013 Jahr

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Autoren
Дмитрий Крутогин,
Олег Рабинович
PDF
0
Bewertung hinterlassen
ru
Buch auf Russisch
Nur auf LitRes lesen

Das Buch kann nicht als Datei heruntergeladen werden, kann aber in unserer App oder online auf der Website gelesen werden.

€1,14

Über das Buch

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Hinterlassen Sie eine Bewertung

Einloggen, um das Buch zu bewerten und eine Rezension zu hinterlassen
Buch Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — online auf der Website lesen. Hinterlassen Sie Kommentare und Bewertungen, stimmen Sie für Ihre Favoriten.
Altersbeschränkung:
0+
Veröffentlichungsdatum auf Litres:
29 März 2018
Schreibdatum:
2013
Umfang:
43 S.
Gesamtgröße:
748 КБ
Gesamtanzahl der Seiten:
43
Rechteinhaber:
МИСиС

Mit diesem Buch lesen Leute

Andere Bücher des Autors