Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Umfang 43 Seiten

2013 Jahr

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Autoren

Дмитрий Крутогин,

Олег Рабинович

PDF

0,0

Bewerten Sie das Buch

Bewertung hinterlassen

Buch auf Russisch

€1,33

Über das Buch

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Genres und Tags

Materialforschung

Workshops

Einloggen, um das Buch zu bewerten und eine Bewertung zu hinterlassen

Buch Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — online auf der Website lesen. Hinterlassen Sie Kommentare und Bewertungen, stimmen Sie für Ihre Favoriten.

Altersbeschränkung:

Veröffentlichungsdatum auf Litres:

29 März 2018

Schreibdatum:

2013

Umfang:

43 S.

Gesamtgröße:

748 КБ

Gesamtanzahl der Seiten:

Rechteinhaber:

МИСиС