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Основной контент книги Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
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Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

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Über das Buch

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.

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Buch Юрия Ракова, Вячеслава Данилова «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5» — online auf der Website lesen. Hinterlassen Sie Kommentare und Bewertungen, stimmen Sie für Ihre Favoriten.
Altersbeschränkung:
0+
Veröffentlichungsdatum auf Litres:
24 April 2018
Umfang:
79 S.
ISBN:
978-5-7782-1618-1
Gesamtgröße:
2.2 МБ
Gesamtanzahl der Seiten:
79
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