Основной контент книги Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Text PDF
Umfang 6 Seiten
2014 Jahr
0+
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Teil der Serie "Прикладная информатика. Научные статьи"
3,0
1 bewertung
€1,03
Über das Buch
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Andere Versionen
1 Buch ab 2 €
Genres und Tags
Einloggen, um das Buch zu bewerten und eine Bewertung zu hinterlassen
Buch И. О. Атовмяна, В. Б. Шувалова u.a. "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" — als pdf herunterladen oder online lesen. Hinterlassen Sie Kommentare und Bewertungen, stimmen Sie für Ihre Favoriten.








