Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
PDF- Größe: 601 S.
- Kategorie: Fremdsprachige Aufklärungsliteratur, Materialforschung, Monografien, Fachliteratur
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.
Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
- Altersbeschränkung:
- 12+
- An folgendem Datum zu LitRes hinzufügt:
- 12 Juni 2014
- Datum der Übertragung:
- 2021
- Schreibdatum:
- 2006
- Größe:
- 601 S.
- ISBN:
- 978-5-00101-142-2
- Gesamtgröße:
- 23 MB
- Gesamtzahl der Seiten:
- 601
- Seitengröße:
145 x 225 мм
- Übersetzer:
К. И. Домкин ,С. А. Иванов
- Copyright:
- Лаборатория знаний
Оставьте отзыв
Отзывы